MUISE / CTI: Amenazas ambientales y electrónica embarcada

El programa MUISE, en colaboración con CTI, organiza este seminario centrado en el impacto de las amenazas ambientales sobre el diseño, desarrollo y operación de sistemas electrónicos embarcados.

La sesión abordará los principales factores ambientales que afectan a la electrónica en entornos exigentes, así como las estrategias de diseño, validación y protección necesarias para garantizar la fiabilidad y robustez de los sistemas electrónicos en aplicaciones críticas.

Dirigido a

Estudiantes de máster, doctorandos y alumnado interesado en:

• Electrónica embarcada
• Sistemas críticos y de alta fiabilidad
• Ingeniería electrónica aplicada a entornos extremos
• Diseño y validación de sistemas industriales